Унікальне обладнання університету

Растровий електроний мікроскоп мікроаналізатор

Фізико-технічний факультет.

Кафедра фізики металів та напівпровідників.

Модель: РЕММА-101А.

Країна виробник: Україна.

Дата випуску: 1995 рік.

Призначений для дослідження топографії поверхні органічних і неорганічних матеріалів у твердій фазі, проведення рентгенспектрального аналізу елементного складу об’єктів по довжинах хвиль та енергіям квантів характеристичного рентгенівського випромінювання.

Дозвільна здатність – 10 nm.

Діапазон зміни збільшення – 10-300000 крат.

Діапазон прискорювальної напруги – 0,2-40 kv.

Діапазон аналізованих елементів – від Na до U.

Методи растрової електронної мікроскопії становлять інтерес для материаловедов, хіміків, біологів, фізиків. Незамінні для фахівців в області мікроелектроніки.

 

Дифрактометр рентгенівський загального призначення (3 од.)

Фізико-технічний факультет.

Кафедра фізики металів та напівпровідників.

Модель: ДРОН-3М

Країна виробник: СРСР

Дата випуску: 1984 (модернізовано у 2005 році)

Короткий опис обладнання: Призначене для широкого кола рентгеноструктурних досліджень різних кристалічних зразків.

Технічні характеристики: Діапазон регулювання високої напруги – 2-60 кВ; діапазон регулювання струму анода рентгенівської трубки – 2-60 мА; діапазон кутів – 0-167°, 0-“100°”; крок кутового переміщення детектора – не менше 0,005°; рентгенівські трубки – 2,0БСВ-24 (Cu), 1,6БСВ-24 (Ni); монохроматизація – Si кристал або піролітичний графіт; управління рухом та запис інтенсивності рентгенівського випромінювання на комп’ютері.

Галузі/напрямки дослідження, в яких може використовуватися обладнання: (а) вивчення кристалічної структури масивних зразків та різних покриттів (фазовий склад, середній розмір зерен, механічні напруження, текстура, орієнтування зерен, якісний фазовий аналіз); (б) вимірювання товщини та густини покриттів товщиною до 100 нм; (в) вивчення побудови та структури багатошарових покриттів; (г) вимірювання радіуса кривини тонких кристалічних платівок (r<50 м); (д) вимірювання шорсткості (середньоквадратичної) поверхні зразка; та інші.

 

Вакуумні технологічні установки для напилення покриттів методом магнетронного розпилення (5 од.)

Фізико-технічний факультет.

Кафедра фізики металів та напівпровідників.

Модель: Власні розробки на основі сумських ВУПів

Країна виробник: Україна

Дата випуску: 2005

Короткий опис обладнання: Призначені для осадження одношарових або багатошарових покриттів з 1-3 матеріалів на плоскі та криволінійний поверхні із загальною товщиною менше 0,1-2,0 мікрон з субнанометровою точністю контролю товщини.

Технічні характеристики: Базовий вакуум – (1-5)´10-6 Торр. Оснащення: щонайменше 2 постійно-струмних магнетрони. Швидкість осадження – 0,01-1,00 нм/с. Мішені: B4C, C, Mg, Al, Si, Sc, Ti, V, Cr, Fe, Co, Ni, Cu, Y, Zr, Mo, W; бориди, силіциди та карбіди перехідних металів. Загальна площа покриття – не більше 25 см2.

Галузі/напрямки дослідження, в яких може використовуватися обладнання: виготовлення шарів та покриттів, які покращують а) механічні властивості масивних об’єктів (міцність, мікротвердість, пружність, напруження, зносостійкість, тертя/ковзання, адгезію і ін.); б) магнітні властивості (тонкоплівкові здавачі, елементи оперативної пам’яті); в) електричні характеристики об’єкту (термо-ЕРС, питомий опір, термоопір і ін.); г) ступінь корозійного захисту; д) оптичні властивості (фотоелектронна емісія, флуоресценція, поглинання світу, відбиття, заломлення і ін.); та інші.

 

Рентгенівський дифрактометр  ДРОН-3М

Країна виробник: СРСР

Дата випуску: 1986

Модернізований дифрактометр для фазового анализу матеріалів з межою визначення фаз 2-5%.

Чорна та кольорова металургія, медицина, криміналістика, екологія, ювелірне виробництво

 

Спектрометр рентгено-флуоресцентний «СПРУТ»

Країна виробник: Україна

Дата випуску: 2010

Рентгенофлуоресцентний спектрометр «СПРУТ» призначений для кількісного аналізу хімічних елементів від Mg до U в діапазоні концентрацій от 0,1 до 100% за стандартною методикою та до 0,001% за модернизованими методиками.

Чорна та кольорова металургія, медицина, криміналістика, екологія, ювелірне виробництво

 

Установка гідростатичного зважування  ВМ-20

Країна виробник: СРСР

Дата випуску: 1961

Установка гідростатичного зважування на базі аналітичних вагів ВМ-20 дозволяє визначати густину матеріалів з точністю ±0,02 Г/см3

Чорна та кольорова металургія, медицина, криміналістика, екологія, ювелірне виробництво

 

 

Назва обладнання: спектрофотометр

Факультет: фізико-технічний

Кафедра: фізики металів та напівпровідників

Модель: СФ-26

Країна виробник: СРСР

Дата випуску: 1981

Короткий опис обладнання:

До комплекту входять: спектрофотометр СФ-26, чотири контрольних світлофільтри, дейтерієва лампа ДДС-30, лампа розжарювання ОП-33-0.3, приставка дзеркального відбиття ПЗО-2.

Спектрофотометр СФ-26 призначається для виміру коефіцієнта пропускання рідких та твердих речовин в області спектра від 186 до 1200 нм.

Технічні характеристики СФ-26:

  • Спектральний діапазон, нм…..від 186 до 1200
  • Відносний отвір монохроматора….. 1:11
  • Діапазон показань шкали коефіцієнтів пропускання, % …..від 0 до 110%
  • Розтяжка ділянок шкали коефіцієнтів пропускання на всю шкалу:

10 % – від будь-якого цілого числа десятків відсотків;

1 % – в області від 0 до 10%.

  • Основна похибка вимірювань коефіцієнта пропускання в області спектра від 190 до 1200 нм, % абс., не більше …..1
  • Джерело живлення – сеть 220±22 В, 50 Гц.
  • Споживана потужність, В×А. …..170.

ПЗО-2 призначена для оцінки квадрата абсолютного і відносного коефіцієнтів дзеркального відбиття плоских поверхонь при куті падіння пучка на зразок, близькому до нормального.

Технічні характеристики ПЗО-2:

  • Робочий спектральний діапазон, нм ……від 220 до 1200.
  • Розміри вимірюваних зразків, мм …..від 25×25 до 50×50.
  • Товщина вимірюваних зразків, мм, не більше ….7

Галузі/напрямки дослідження в яких може використовуватись обладнання:

Хімічна промисловість. Дослідження оптичних властивостей напівпровідникових матеріалів.

 

Назва обладнання: тепловізор FLUKE

Факультет: фізико-технічний

Кафедра: фізики металів та напівпровідників

Модель: Ti10

Країна виробник: США

Дата випуску: 8/1/2012

Короткий опис обладнання:

Тепловізор Ti10 є портативною камерою що передає зображення, яка використовується для діагностичного обслуговування, усунення несправностей устаткування і контролю. Тепловізор передає теплове і видиме зображення на дисплей з роздільною здатністю 640×480.

Технічні характеристики:

  • Теплове і видиме зображення 640×480, зображення в режимі «Picture-in-Picture».
  • Нижня межа температурного діапазону ….-20оС.
  • Верхня межа температурного діапазону …+250оС.
  • Точність ….. ±2оС

Галузі/напрямки дослідження в яких може використовуватись обладнання:

Дефектоскопія, визначення розподілу теплових полів в обладнанні та радіоелектронній апаратурі.

 

Назва обладнання: терморадіометр

Факультет: фізико-технічний

Кафедра: фізики металів та напівпровідників

Модель: ТРМ «И»

Країна виробник: СРСР

Дата випуску: 8.06.1989

Короткий опис обладнання:

Терморадіометр ТРМ «И» (індикатор) призначений для оцінки коефіцієнта випромінювання поверхонь великогабаритних виробів і лабораторних зразків по відношенню до зразків порівняння. Досліджувані поверхні повинні бути непрозорі в області спектральної чутливості терморадіометра.

Технічні характеристики:

  • Область спектральної чутливості, мкм …від 4 до 40.
  • Межі оцінки коефіцієнта випромінювання …від 0,03 до 0,99.
  • Розбіжність показників на діапазоні «0-1» при повторних вимірах зразка при однакових умовах, дел., не більше …. 2.
  • Частота модуляції теплового потоку, Гц….7±1.
  • Приймач теплового потоку – болометр типу БМ6-Ц1 (БМ6-Ц2).
  • Прилад візуалізації – мікроамперметр М907.
  • Споживана потужність, В×А, не більше…..30.
  • Температурний діапазон роботи, оС …..від 10 до 35

при відносній вологості повітря, %, не більше …..60.

Галузі/напрямки дослідження в яких може використовуватись обладнання:

Терморадіометр може бути використаний в машинобудівної та хімічної промисловості.

 

Назва обладнання: фотометр

Факультет: фізико-технічний

Кафедра: фізики металів та напівпровідників

Модель: ФМ-59

Країна виробник: СРСР

Дата випуску: 31.01.1964

Короткий опис обладнання:

Прилад призначений для визначення коефіцієнта поглинання As сонячної радіації непрозорими поверхнями. Визначення коефіцієнта As проводиться непрямим методом – на підставі вимірювання коефіцієнта відбиття випробуваної поверхні, тобто величини що доповнює коефіцієнт As до одиниці.

Технічні характеристики:

  • Сумарний енергетичний коефіцієнт відбиття вимірюється в діапазоні від 0 до 0,9 (0 – 90%) за допомогою зразків порівняння.
  • Коефіцієнт поглинання сонячної радіації As визначається для спектрального інтервалу довжин хвиль від 0,3 до 2,4 мкм в діапазоні від 1 до 0,1 (100 – 10%).
  • Коефіцієнт відбиття вимірюється для ділянки поверхні діаметром 20 мм.
  • При вимірах досліджувана поверхня висвітлюється під кутом 16о до її нормалі.
  • Вимірювання проводяться на плоскій або випуклій (сферична, циліндрична, конічна) поверхні при найменшому радіусі кривизни r = 75 мм.
  • Живлення від ланцюга змінного струму 127 або 220 В.
  • Споживана потужність 100 вт.
  • Робота з фотометром може проводитися як в лабораторних, так і в цехових умовах при відносній вологості повітря не більше 80% і температурі від + 15° до + 30°С.

Галузі/напрямки дослідження в яких може використовуватись обладнання:

Підготовка та атестація оптичних поверхонь.

 

Мікроскоп електронний просвічуючого типу

Фізико-технічний факультет.

Кафедра фізики металів та напівпровідників.

Модель: ПЕМ-125К.

Україна.

2008 рік випуску.

Призначений для дослідження кристалічної структури і фазового складу тонких кристалів.

Роздільна здатність по кристалічній решітці – 0,14 нм.

Діапазон електронно-оптичних збільшень – 50-1300000.

Діапазон прискорюючої напруги – 25-125 кВ.

Ефективна довжина дифракційної камери 80-3500 мм.

Методи просвічуючої електронної мікроскопії представляють інтерес для матеріалознавців, хіміків, біологів, фізиків. Незамінні для фахівців в області мікроелектроніки.